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    什么是半導體封裝材料TSDC測試系統?
    什么是半導體封裝材料TSDC測試系統? 發布時間:2024-08-19
    什么是半導體封裝材料TSDC測試系統?熱刺激理論是在介質物理的基礎上發展起來的,研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實用而且又能較準確地測量出某些物質(如電介質、絕緣材料、半導體、駐極體等)的微觀參數,熱刺激法是一面對材料升溫一面進行測量,即非等溫測量。由于材料(例如介電材料)中...
    • 2016

      8-16
      華測電弱點測試儀 新能源汽車電池隔膜檢測
      華測電弱點測試儀新能源汽車電池隔膜檢測產品型號:HCDS-20KV華測電弱點測試儀產品特性:該儀器是根據GB/T13542-92、IEC60674-2:1988電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚...
    • 2016

      8-16
      高壓脈沖發生器
      產品簡介高壓脈沖發生器HC-255、HC-256G、HC-258、ISG-20等系列產品可產生多個IEC、GB標準的,該產品廣泛用于電表、家用電器、低壓電器機電及元器件插座連接器電纜等產品絕緣試驗。滿足規格高壓脈沖發生器HC-255、HC-...
    • 2016

      8-16
      高壓漏電起痕試驗儀
      產品簡介符合標準:●GB/T6553-2003評定在嚴酷環境條件下使用的電氣絕緣材料耐電痕化和蝕損的試驗方法●IEC60587-2007-05Electricalinsulatingmaterialsusedundersevereambie...
    • 2016

      8-15
      復合絕緣子輪式試驗機
      產品簡介執行IEC62217及ANSIC29.13等標準的要求設計制造的◆工作原理1.測試前,使用去離子水將試品表面進行清潔處理;2.將試品固定到旋轉輪上。每次試驗中選用同一產線生產的兩對絕緣子試品規格執行IEC62217及ANSIC29....
    • 2016

      8-15
      漏電起痕試驗儀
      產品簡介耐漏電起痕試驗儀是根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN5348...
    • 2016

      8-12
      高頻介電常數測試儀
      高頻介電常數測試儀產品簡介頻介損及介電常數測試儀能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。該儀器...
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